完整英文电子版 JEDEC JESD659C:2017 Failure-Mechanism-Driven Reliability Monitoring (故障机制驱动的可靠性监控)。该标准描述了基于限制可靠性的故障机制的测量的组件和组件可靠性监视器的基本要求。 它适用于资格后生产期。 内在(磨损和系统)和外在(基于缺陷的)故障源都得到了解决。
2021-08-12 14:04:11 170KB JEDEC JESD659C 故障机制 可靠性
包含的13份最新英文电子版标准文件是: 1, AEC-Q100H:2014 基于失效机制的集成电路应力测试资格认证(基础文件)- 完整英文电子版(48页) 2, AEC-Q100-001C:1998 Wire Bond Shear Test(线材剪切试验)- 完整英文电子版(14页) 3, AEC-Q100-002E:2013 人体模型(HBM) 静电放电(ESD)测试 - 完整英文电子版(7页) 4, AEC-Q100-003E:2003 机器型号 (MM) 静电放电测试 - 完整英文电子版(14页) 5, AEC-Q100-004D:2012 IC Latch-Up Test(IC锁存测试)- 完整英文电子版(11页) 6, AEC-Q100-005D1:2012 非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 - 完整英文电子版(14页) 7, AEC-Q100-006D:2003 电热诱导的寄生门漏电测试(GL - 完整英文电子版(15页) 8, AEC-Q100-007B:2007 Fault Simulation and Test Grading(故障模拟和测试分级)- 完整英文电子版(25页) 9, AEC-Q100-008A:2003 Early Life Failure Rate (早期寿命衰竭率)- 完整英文电子版(6页) 10, AEC-Q100-009B:2007 Electrical Distribution Assessment(配电评估)- 完整英文电子版(10页) 11,AEC-Q100-010A:2003 Solder Ball Shear Test(焊锡球的剪切试验)- 完整英文电子版(7页) 12,AEC-Q100-011D:2019 带电设备模型(CDM) 静电放电测试 - 完整英文电子版(12页) 13, AEC-Q100-012:2006 12V 系统智能功率器件的短路可靠性表征 - 完整英文电子版(14页)
2021-07-14 14:01:46 1.73MB AEC Q100 故障机制 集成电路