对太赫兹时域光谱成像在时域和频域两种模式下不同处理方法进行了研究。太赫兹波时域光谱成像技术与一般的强度成像不同, 它具有信息量大、同时含有振幅和位相信息等显著特点。根据不同需求, 可以选取不同的物理量来展示不同的成像特征, 以便提供更多、更精确的样品信息。每一个像素点对应一个时域波形, 可以从时域信号或它的傅里叶变换谱中选择任意数据点的振幅或位相进行成像, 从而重构样品的空间密度分布、折射率和厚度分布。在频域模式下以不同频率点的振幅、吸收率、折射率、功率作为参数进行成像, 进行了太赫兹波多光谱成像技术的初步研究。这些研究结果对提高太赫兹成像的分辨率和太赫兹图像识别有着重要的意义。

太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术给人们提供了一种快速和准确地确定材料在太赫兹波段光学参数的工具。由于材料的厚度对其折射率的提取精度影响很大，而材料的厚度通常不能够准确地测量，为了避免测量厚度误差给确定光学参数结果带来的影响，发展能够同时确定样品的厚度和折射率的方法至关重要。由于材料内部的往返反射信号较弱，对Duvillaret等提出的方法在计算频段和迭代算法上进行了一些改进，使得计算结果更加准确，操作更加方便、快捷。并对两种典型材料聚乙烯和硅片的厚度和折射率进行了提取，以验证这种方法的有效性。

labview在太赫兹光谱系统中的应用，提供给一些思路

太赫兹时域光谱图像的模拟分析，裴继红，胡勇 ，本文通过分析太赫兹时域光谱(THz-TDS)图像成像机理，提出了一种利用THz-TDS参考脉冲信号和目标材料的吸收谱，以强度图像作为THz总体能��

THz时域光谱装置与应用

太赫兹波是频率介于0.1~10 THz范围内的电磁波，处于电磁波谱中毫米波和红外线之间，如图1所示。目前电磁波谱的毫米波和红外等波段研究发展成熟，但是太赫兹波由于产生困难研究很少，一度处于空白波段。最近随着超快激光技术的迅猛发展，为太赫兹脉冲的产生提供可靠且稳定的激光光源，太赫兹波技术因此得以迅速发展。

杨玉平，张振著 第一章：太赫兹辐射理论概要 第二章：太赫兹时域光谱技术 第三章：衍射受限太赫兹成像 第四章：超衍射受限太赫兹成像 第五章：THz成像技术的应用 附录A：闪锌矿晶体作为辐射源和探测晶体 附录B：材料参数提取的原理及方法 附录C：Gouy相移

太赫兹时域脉冲层析成像的Matlab实现.pdf

我国成品油普遍采用管道顺序运输方式，顺序输送不可避免的会在两种不同 种类油品接触面产生混油。如果不能准确地检测到混油段，对混油段进行准确切 割，就会造成油品的大量浪费；如果不合格油品进入到某一种油品储罐中，将会 污染整个储罐，造成严重的经济损失。安全，准确，高效的混油定量识别，对减 小油品在储存和运输过程中的各种事故和损耗，具有十分重要的经济意义和战略 意义。

利用太赫兹(THz)时域光谱技术对两种重要的半导体材料n型硅(n-Si)样品和p型硅(p-Si)样品进行了研究。通过测量自由空间的参考信号和透过样品的THz信号, 经过快速傅里叶变换等一系列数据处理, 获得了它们在0.5～2.0 THz频率范围内的光学参数。结果表明, 在该频率范围内两种样品的折射率和相对介电常数实部基本不随频率变化, 而p-Si样品的消光系数和相对介电常数虚部随频率增大而下降的幅度明显大于n-Si样品。此外, 通过计算获得了两种材料的复电导率和介电损耗, 发现n-Si样品和p-Si样品两者在THz波段都具有良好的介电特性, 适合作为半导体基片材料在THz波段工作。