完整英文版 IEC 60749-3:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3:External visual examination(半导体器件-机械和气候试验方法-第3部分:外观检查)。IEC 60749-3:2017 用于验证半导体器件的材料、设计、构造、标记和工艺是否符合适用的采购文件。 外观检查是一种无损检测,适用于所有包装类型。 该测试对于鉴定、过程监控或批次验收很有用。
此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改:
a) 提及ESD保护的需要;
b) 包含有关锡须现象的信息;
c) 包含可选的报告表/检查表。