华为硬件可测性设计规范1范围 2定义 3功能测试可测性设计规范3.1功能测试装备原理说明 3.2 单板功能测试可测性设计 3.2.1机械结构的可测性设计 3.2.2自检和自环 3.2.3测试夹具 3.2.4其他 4 ICT可测性设计规范 4.1机械设计规范 4.1.1测试点 4.1.2 Tooling Holes 4.1.3两个测试点中心间隔 4.1.4测试点到其它物体的间距 4.1.5焊锡面元件高度 4.1.6其他 4.2电路设计规范 4.2.1芯片的控制引脚 4.2.2反馈环路 4.2.3边界扫描设计 4.2.4 NAND-Tree 4.2.5 FPGA和EPLD设计 4.2.6在线编程 4.2.7减少测试点的方法 4.2.8其他