半导体存储器测试概论，主要内容包含：
1.存储器测试流程
2. Wafer Sort 流程
3. Assembly 流程
4. Fianl test流程
5. Test item简介
6. Continue test
7. input leakage test
8. out put leakage test
等等，详见文档。
2023-02-24 13:18:05
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