这个本人综合了很多文献和资源，提炼后的一些关于星点检验像差方法的分享，包括星点检验的原理、条件、特点等，里面的公式推导本人花了很多时间，供大家参考

同步辐射(SR)用光学元件必须采用很大的入射角以得到较高的反射率,从而使得这类光学元件一般均为横向较窄而轴向甚长的长条状。为获得好的聚焦性能,这类光学元件的面形通常为非球面,包括圆柱面、环面等,曲率半径范围从约几十毫米到无穷大,因此同步辐射中的光学检测不同于可见光光学元件的检测方法。为了保证同步辐射光束线的传输效率,第三代同步辐射光束线要求镜子工作表面的斜率均方根(RMS)误差在3 μrad以下,表面粗糙度RMS要求小于0.3 nm,精确测量这些反射镜的表面轮廓对于建造同步辐射光束线非常重要。同步辐射光学检测设备除了常用的面形干涉仪、粗糙度仪外,还有一种可见光检测中没有的设备--长程面形仪(LTP)。着重介绍同步辐射中的光学检测手段。

针孔或光纤直径的大小是影响点衍射干涉仪检测精度的重要因素, 在实际检测中须根据检测任务的精度要求来选择小孔的尺寸。基于标量衍射理论, 仿真计算了小孔尺寸引起的衍射波面相对标准球面偏离的误差。结果表明, 当小孔直径为2.5 μm, 数值孔径(NA)为0.3时, 与小孔有关的光学系统误差峰值(PV)约为0.07 nm。仿真方法和计算结果为针对各种高精度面形检测任务而设计点衍射干涉仪和分析其精度提供了理论和数据参考。

AOI—PCB的缺陷检测包括：底片的检查，覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影线的潜像质量的检查，在铜的表面检查显影后的图像质量，检查导体电路图形的质量，钻孔后的质量检查，检查微孔质量，非传统微孔加工表面质量检查和集成电路的封装和装配的质量检查。 FPD—AOI的主要应用于以下检测：Mura缺陷检测，ColorFilter缺陷检测，色度、厚膜、光学密度检测，PI检测，LC液晶检测。检测工序遍布LCD、OLED以及TouchPanel产品等平板显示器件的生产环节，主要利用光学信号对其结构和外观做出检测并辅助其他功能性检测。主要目的有三：（1）避免不良品流入下道工序；（2）改善制程工艺和流程；（3）对

本程序为Matlab代码，支持在Matlab中读取Zygo干涉仪（MetroPro或Mx）生成的dat测量文件。 本程序共调取.dat文件中所包含的137个参数，包括：干涉图（IntensityData）、相位/面形数据（PhaseData）、干涉图像素标定（pixel_height和pixel_width）、测试波长（wavelength_in）等等。 详细说明请见我的CSDN文章：https://blog.csdn.net/Loveoptics/article/details/123453503 注意：如需DecodeZygodat.p暗码文件里的代码，请移步至某宝，额外付费购买旗舰版：https://item.taobao.com/item.htm?id=674411183431

音视频-图像处理-扫描隧道显微镜诱导发光中的光学检测和单分子发光研究.pdf

圆环标识在目标识别及定位中应用广泛，其定位精度很大程度上决定了三维测量系统的精度。为了消除由透视投影变换产生的离心偏差，提高圆环标识的定位精度，对圆环的离心偏差校正展开研究，根据已有的空间投影推导给出校正方法。首先同心圆环经过透视投影变换，得到中心分离的双椭圆，由双椭圆的中心和同心圆环半径信息，得到圆心的实际位置。然后进行同心圆环投影仿真实验，根据圆心定位结果分析偏心误差与圆环半径以及旋转角度的关系。最后利用显示器作为物平面显示不同参数的同心圆环，与相机构成实验系统对圆心测量精度进行评价。结果表明：此方法可以准确地获取圆环标识的真实投影点，且校正后，经标定的相机平均反投影误差减小为原来的50%。利用显示器验证圆环定位精度，与以前的标定板验证方法相比，圆环标定在操作上具有更好的灵活性与实用性。

针对概率Hough变换耗费大量内存以及直线端点搜索容易受到网状聚集点干扰的缺陷，提出一种基于概率的局部Hough变换优化算法。将边界分为有序和无序两类，前者通过随机抽取采样点并结合其相邻点进行直线搜索，后者采用在随机抽取点周围建立感兴趣区域并进行局部Hough变换，检测到直线后进行全局搜索并实时修正直线斜率，对因网状聚集点产生的错误直线采用间隔计数和限制总间隔长度的方法进行排除。使用500张图片进行实验验证，算法耗时均低于概率Hough变换耗时的1/3，且对网状聚集边界点的直线错检具有较高抵抗性，检测结果比概率Hough变换直线检测更加准确，内存消耗减少超过90%以上。

AOI-光学检测行业报告（43页）,资源名称：AOI-光学检测行业报告（43页）AOI-光学检测的一片蓝海.zip...

Saki AOI自动光检测培训教程，公司内部Saki AOI培训文档，通俗易懂。