基于ARM7微处理器的智能型甲烷检测器及其低功耗设计,部凡,夏继强,本文介绍了一种以AT91M55800 ARM为核心构成的高精度、低功耗、智能型甲烷检测器。在设计中,作者将低功耗的一些设计思想和手段应用于�
2024-03-22 17:17:53 254KB 首发论文
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鸡毛蒜皮之一:成本节约 鸡毛蒜皮之二:低功耗设计 鸡毛蒜皮之三:系统效率 鸡毛蒜皮之四:信号完整性 鸡毛蒜皮之五:可靠性设计 胶片尺寸收缩原因分析
2023-09-24 15:05:57 25KB PCB 设计 成本节约  低功耗设计 
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现代便携式设备对功耗方面的技术要求越来越高。设计并开发了一种以新型STM8L单片机为控制核心的便携式微型血糖仪,包括血糖检测工作原理、系统硬件电路及软件设计方法。该设计检测电路简单有效,系统整体紧凑,具有体积小、功耗低、功能齐全的特点,仪器试用数据证明该产品的性能,并且保障了产品投产。
2023-03-28 13:36:25 293KB 行业研究
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在项目设计初期,基于硬件电源模块的设计考虑,对FPGA设计中的功耗估计是必不可少的。笔者经历过一个项目,整个系统的功耗达到了100w,而单片FPGA的功耗估计得到为20w左右,有点过高了,功耗过高则会造成发热量增大,温度高常见的问题就是系统重启,另外对FPGA内部的时序也不利,导致可靠性下降。其它硬件电路的功耗是固定的,只有FPGA的功耗有优化的余地,因此硬件团队则极力要求笔者所在的FPGA团队尽量多做些低功耗设计。笔者项目经历尚浅,还是次正视功耗这码事儿,由于项目时间比较紧,而且xilinx方面也比较重视这个项目,因此当时有xilinx的工程师过来对我们做了些培训,并且专门请了美国总部的过来
2023-03-08 08:57:43 361KB 解析FPGA低功耗设计
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瑞萨MCU具有极高的稳定性,与市场占有率,R7F系列具有低功能耗的特点,可做为汽车电子的控制MCU,
2023-02-08 17:42:09 10.02MB 汽车电子 MCU
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在芯片开发过程中,调试就要耗费50%左右的开发时间和精力,这是一个不争的事实。调试被认为是半导体芯片设计与验证行业面临的最棘手挑战之一。   本文将全面分析低功耗设计和验证面临的各种复杂调试问题。我们将借助相关示例来说明如何避免或轻松解决这些问题。本文还会重点讨论一些低功耗设计可避开的常见陷阱;如不避开,这些陷阱可能引起难以在设计后期调试的复杂低功耗问题。
2023-01-09 15:12:25 1.27MB 控制器/处理器
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目录 1、驱动原理 2、驱动程序 3、低功耗设计 在工业物联网传感器可视化设计时,仅仅为显示传感器的数值变化,多选用低成本、低功耗、尺寸合适的LCD数码屏,本次博客为各位分享华大半导体HC32L136驱动LCD数码屏的实现方法以及低功耗设计。 1、驱动原理 LCD数码屏本质上就是数码管,因为其主要是为了显示传感器数据,多为若干个7段数码管(7个亮段和1个小数点组成 )组成,7个亮段实际上就是7个条形的发光二极管,按顺时针方向,这7个亮段分别为a、b、c、d、e、f、g大多数七段数码管还带有一个小数点位dp。如下图所示: 7段数码管中亮段的发光原理和普通的发光二极管是一样的,所以可以把这7
2022-06-13 09:47:44 1.42MB 半导体 半导体产业 发光二极管
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摘要:分析系统芯片(SoC)设计中大电容负载的地址总线低功耗设计方法;利用地址总线零翻转编码和解码技术,有效地减少SoC地址总线活动,降低SoC芯片和系统的功耗;同时,应用于实际的SoC设计中,验证它的功能和适用范围。 关键词:低功耗 地址总线 零翻转编解码引 言面向便携式设备的SoC设计,不仅仅要求性能高、体积小,更要求功耗低。一般而言,SoC的静态功耗很小,而对负载电容充放电的动态功耗很大。SoC内部,总线上挂着很多功能设备,导致总线的电容负载很大。如果总线与片外设备联系,那么,它还要驱动很长的片外连线以及片外设备,负载高达50pF,比SoC内部各个节点的电容负载0.05pF
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书中的每一篇评测,每一篇设计心得,都是 EEWORLD 网友的精心之作。这里没有教科书式的一板一眼,细读每篇文章,就如同与作者之间生动的对话,而知识则充盈在字里行间,开卷有益。
2022-04-13 09:33:58 13.3MB 低功耗 TI MSP
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引言   随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用,可测性设计(DFT)的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。因为在测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式,必将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问题。随着集成电路的发展,内建自测试(BIST)因为具备了诸多优越性能(如降低测试对自动测试设备在性能和成本上的要求、可以进行At—speed测试及有助于保IP核的知识产权等),已成为解决SoC测试问题的首选可测性设计手段。   在BIST中常用线性反馈移位寄存器(LFSR)作为测试模式生成器(TPG)。LFSR必须产生很长的测试矢量集才能满足故障覆盖率的要求,但这些矢
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