细致描述基于网格的结构光编码技术，利用主动测量技术高效测量三维物体的深度

仪器分析

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三台交换机使用G0/0/25--G0/0/28这四个业务口进行堆叠，使用的光模块监控模板，可监控发送功率、接收功率、电压、电流、温度，并对超阀值进行告警。

用户使用本系统对Cpe进行操作。本系统适用于电信、移动、联通（EPON、GPON、ETH上行接口）各种型号的Cpe。为整新、检测Cpe的用户提供方便、快捷、高效的生产工具。 技术支持: QQ：1640351661 Mail:tr069_acs@163.com 微信号：Sxxzz9

为了提高偏振去雾方法对大气光估计的准确度,提出一种基于大气光偏振层析的雾天图像重构方法。在偏振空间下,将大气光梯度先验信息作为约束条件,对原始雾天偏振图像进行分层,估计大气光偏振图像;然后从大气光偏振图像中解析大气光,实现对大气光的偏振层析;最后,结合所提雾天图像偏振重构模型,并在大气光图像中估计无穷远处大气光,实现对雾天图像的去雾重构。实验结果表明,所提方法提高了大气光估计的准确度,进而使重构图像更清晰、目标还原度更高,且适用于不同浓度下的雾天图像重构。

动态光散射是测量纳米颗粒大小的有效方法，但使用线性累积分析法反演的颗粒直径受数据点长度的影响较大，数据点长度不同，拟合结果也不同。针对线性累积分析法的缺点，对比分析了线性和非线性累积分析法，并结合两者的优点提出最优拟合累积分析法。此算法由一阶曲线拟合反演颗粒的直径，并与一阶多项式拟合结果对比，获得光强自相关函数的最优线性拟合长度，然后由二阶多项式拟合反演颗粒的多分散系数。理论分析与实验数据表明：最优拟合累积分析法反演的颗粒直径相对误差和重复性均小于2%，多分散系数相对误差小于6%，因此利用最优拟合累积分析法可获得稳定、可靠的颗粒直径及其多分散系数。

半导体领域对靶材要求最高。WSTS（全球半导体贸易统计组织）数据显示，溅射靶材主要应用在平板显示、记录媒体、光伏电池、半导体等领域。其中，在溅射靶材应用领域中，半导体芯片对溅射靶材的金属材料纯度、内部微观结构等方面都设定了极其苛刻的标准，需要掌握生产过程中的关键技术并经过长期实践才能制成符合工艺要求的产品。因此，半导体芯片对溅射靶材的要求是最高的，价格也最为昂贵。  溅射靶材的制备工艺主要包括熔炼铸造法和粉末烧结法。常用的熔炼方法有真空感应熔炼、真空电弧熔炼和真空电子轰击熔炼等。与粉末法制备的合金相比，熔炼合金靶材的杂质含量(特别是气体杂质含量)低，且能高密度化、大型化。但是，对于熔点和密度