VSM-175振动样品磁强计主要功能：可用于材料研究和开发、质量控制及产品检测，完成对磁性材料的基本磁性能的测量和分析。可测量磁性材料的基本磁性能（如磁化曲线，磁滞回线，退磁曲线），得到相应的各种磁学参数（如饱和磁化强度，剩余磁化强度，矫顽力，最大磁能积，磁导率（包括初始磁导率）等），可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。

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ApacheHudi(简称：Hudi)使得您能在hadoop兼容的存储之上存储大量数据，同时它还提供两种原语，使得除了经典的批处理之外，还可以在数据湖上进行流处理。这两种原语分别是：Update/Delete记录：Hudi使用细粒度的文件/记录级别索引来支持Update/Delete记录，同时还提供写操作的事务保证。查询会处理最后一个提交的快照，并基于此输出结果。变更流：Hudi对获取数据变更提供了一流的支持：可以从给定的时间点获取给定表中已updated/inserted/deleted的所有记录的增量流，并解锁新的查询姿势（类别）。这些原语紧密结合，解锁了基于DFS抽象的流/增量处理能力。

程序功能说明: 1、通过STM32的硬件I2C读写控制BH1750光照度传感器模块测量环境光照强度。 2、程序通过串口打印输出光照强度值。 3、程序将光照强度值在LCD屏上显示。 程序注意事项: 1、根据BH1750传感器手册可知，在One Time H-Resolution Mode2测量模式下测量光照强度大于会要120ms以上的测量时间，所以程序在发送测量命令以后应该尽量延时120ms以上，否则测量出来的数据不准确。 2、在两次测量之间最好加个延时，也就是在第一次测量结束和下次测量命令发出之间加个100ms左右的延时，否则也会出现测量错误的问题。 3、在使用FSMC驱动LCD时不能用I2C1，只能用I2C2，或者将I2C1的时钟和引脚重映射。 4、测量结果保存在两个字节中的，所以需要作移位处理，具体处理方式可以产考手册和程序。 程序运行效果: 附件内容还包括基于LABVIEW实现记录并显示光线强度界面程序 实现方式可以参考该链接:LabVIEW中调用DLL文件实现温湿度数据显示（VI源码+驱动库+图片说明）

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针对目前普通日光灯因不能调节光强而造成的能源浪费问题，设计了一种基于单片机的新型节能日光灯系统，该系统主要分为3个部分，首先采集外界光强信息并将数据传至单片机；随后单片机根据输入量的不同调整输出的PWM波；最后日光灯控制电路通过PWM波的控制，调节日光灯两端的电压，控制日光灯输出的光强，使日光灯随外界光强的变化而自动调整照射光强。经过不同外界环境的实验调试，在满足使用者的用光要求的前提下，日光灯工作稳定，功率明显降低，适宜推广使用。