将光纤光栅传感技术与液体的声光效应相结合，实现对液体浓度的检测。由于液体浓度的变化，光声效应产生的声信号将发生变化，利用光纤光栅声传感技术识别声信号的变化情况，从而实现对液体浓度的检测。实验结果验证了该方法的可行性，该方法对液体浓度测量的灵敏度可达0.05%/mV。

特征选择算法能够更好地提高入侵检测系统的检测速度和检测效果,消除冗余数据并减轻噪音特征.结合特征选择算法的优势,提出一种基于主成分分析(PCA)与决策树(C4.5)的入侵检测方法,进而构建出轻量级的入侵检测系统.通过在KDD1999数据集上对该方法进行详细的实验验证,证明该方法一方面确保系统有较高的检测率与较低误报率,另一方面能够比较显著地提高系统的训练时间与测试时间.同时,通过比较实验发现此方法在训练时间、测试时间、检测率、误报率上的效果也优于GA-SVM方法.

基于能量密度的损伤识别方法为振动筛横梁故障的在线诊断提供了可能,以PCI-6023E板块作为硬件,labview图形化编程语言为软件,实现了裂纹梁的故障诊断系统设计,并通过试验验证了此方法的可行性。

物联网（IoT）技术已广泛应用于智能电网中，以监控物理或环境状况。 特别是，状态估计是智能电网中基于IoT的重要应用程序，通过对电表测量和电力系统拓扑的分析，状态估计可用于系统监控以获得最佳的电网状态估计。 但是，错误数据注入攻击（FDIA）对状态估计造成严重威胁，这是检测困难的原因。 在本文中，我们提出了一种针对FDIA的有效检测方案。 首先，研究了反映智能电网物理特性的两个参数。 一个参数是从控制器到静态无功补偿器（CSSVC）的控制信号。 较大CSSVC表示存在强烈的电压波动。 另一个参数是定量节点电压稳定性指数（NVSI）。 较大的NVSI表示较高的漏洞级别。 其次，根据CSSVC和NVSI的值，提出了一种优化的聚类算法，将潜在的易受攻击节点分为几类。 最后，基于这些类别，提出了一种用于FDIA实时检测的检测方法。 仿真结果表明，该方案可以有效地检测出FDIA。

背景图像差分法是运动目标实时检测中常用的方法,但缺乏背景图像随监视场景光照变化而及时更新的合理方法,限制了该方法的适应性。对此,文章首先提出了一种自适应背景更新方法;然后利用最大类间方差法实现运动目标的自适应阈值分割,并利用基于形态学方法的连通区检测算法检测运动目标;最后以Kalman滤波为运动模型实现对运动目标的连续跟踪。实验结果表明:所提方法可随着光照条件的变化,实时、准确地检测出运动目标并实现稳定跟踪。

基于自适应背景模型的运动目标检测，陈雷，邹琪，运动目标检测作为许多计算机视觉应用中最关键的首要处理环节，在诸如视频监控、目标跟踪、视频搜索等领域中都有着广泛的应用。正

该资料使用时间差分、背景差、自适应背景更新等方法进行运动目标跟踪。

工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定 都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并 且报警。但是只能检测一代内存， 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式，他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍，因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86系列，只要BIOS认的到的容量 他都能测！！ 　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上 述选项才能通过。 　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆　可以测试SD及DDR内存。 ☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带 动它（可解决部分点不亮问题） 。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时， 上述选项才能通过。 ☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试CPU的 L2 cache。

HED-BSDS用于边缘检测hed算法的实现

MATLAB疲劳检测（眼部识别，可做眼部，打哈欠，偏头等，构架）设计 (13)设计