微分传输矩阵法(DTMM)可以解析求解一维非均匀介质中的波动方程。用该方法,对几种折射率连续且周期分布的一维光子晶体进行了带隙分析。结果表明,折射率连续变化的一维周期结构也具有明显的带隙特征,折射率变化越平缓,光带隙的宽度越小。对于折射率正弦变化的一维光子晶体,其折射率变化得越剧烈,光子晶体的中心频率越小,带隙越宽;同时,折射率的平均值越大,中心频率越小,带隙越窄。由于材料的物理特性都是连续变化的,同样可以把结构推广到一维周期性功能梯度材料。

太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术给人们提供了一种快速和准确地确定材料在太赫兹波段光学参数的工具。由于材料的厚度对其折射率的提取精度影响很大，而材料的厚度通常不能够准确地测量，为了避免测量厚度误差给确定光学参数结果带来的影响，发展能够同时确定样品的厚度和折射率的方法至关重要。由于材料内部的往返反射信号较弱，对Duvillaret等提出的方法在计算频段和迭代算法上进行了一些改进，使得计算结果更加准确，操作更加方便、快捷。并对两种典型材料聚乙烯和硅片的厚度和折射率进行了提取，以验证这种方法的有效性。

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利用时域有限差分方法，理论上研究了由正方形金属嵌入背景材料硅中组成的二维正方晶格和三角晶格光子晶体的亚波长成像特性。采用Drude模型描述金属银的色散特性，在近红外波段该模型可以很好地描述金属的实际介电常数。通过结构参数的设计，在上述两种结构中实现了波长在1550 nm附近的亚波长成像，并且发现金属对入射光的吸收使得成像位置处的光强稍有降低，但是对于光子晶体亚波长成像的质量并无影响。相对于通常的硅基空气孔型光子晶体亚波长成像器件，该种硅基金属型全固态光子晶体结构更加稳定，因而可以更好地在复杂全光集成回路中加以实际应用。

空气折射率的精确计算可用于计量学或光学。 该函数是矢量化的，并包含用于将湿度作为摩尔分数和饱和蒸汽压进行所需计算的子函数。 所有输入都经过验证以确保它们在有效范围内。

Python 模拟光的折射

描述了石墨烯电导率与弛豫时间的关系，谐振波长与基底折射率的关系。

文件输出可参考此博客：https://blog.csdn.net/weixin_46584887/article/details/123930760?spm=1001.2014.3001.5501 文件内包含一份说明文件README.txt，只要获取波长——折射率数据便能拟合出Selmier方程中的各参数，可执行文件（.exe）文件在 selmier 文件夹内，可自行创建快捷方式 说明文件README.txt详细介绍了使用方法，不懂可再联系我，使用.exe可执行文件省去了环境的搭建，十分方便。

光子晶体特殊的色散特性能导致负折射现象发生。用波束位移法对二维光子晶体平板的负折射现象进行理论计算和实验测量, 得到了入射光经平板光子晶体折射后的二维光场分布。测量结果表明, 横电(TE)光在光子晶体中发生负折射, 出射光沿出射面产生了反方向的横向位移, 由此计算出来的负折射率约为-0.44, 而横磁(TM)光没有发生负折射。实验结果与仿真结果吻合较好。

基于Kretschmann结构,建立了一种具有四层介质的光纤表面等离子体共振(SPR)传感器理论模型。通过仿真可知,当折射率为1.333~1.336时,反射波p、s偏振分量的相位差与折射率呈近似线性的变化关系,并得到了光纤SPR的传感测量公式。实验使用双频He-Ne激光器作为光源,提出了一套基于共光路结构的外差干涉光纤SPR测量系统,并采用相位解调的信号处理方法,使传感器具有较高的测量分辨率。甘油溶液的实验标定数据表明测量结果与理论分析一致,且结果与采用其他测量方法得到的结果吻合度较好,二者所得折射率的相互误差小于8.0×10 -5。所提传感器可以应用于环境检测、食品安全、药物筛选及临床医学等领域中。