精通VerilogHDL：IC设计核心技术实例详解 -部分习题源码

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PL2303TA.HXD.RA.EA.SA停产通知：到2019年底，将淘汰（EOL）全速USB转串行桥控制器的五个高产旧版本。可以用新PL2303G系列产品代替它。请最后一次订购时间为2020年6月。最后一次发货将在2020年末安排。 新的PL2303GE芯片是流行的PL2303 USB转串口（UART）桥接控制器系列中新增的最新G系列IC产品，取代了具有ESD保护功能的PL2303EA芯片。 它提供了先进的全功能单芯片桥解决方案，用于将全双工UART异步串行接口设备连接到任何支持通用串行总线（USB）的主机。 PL2303GE提供了强大的USB驱动程序，可以在大多数操作系统上模拟传统的COM端口（通过虚拟COM端口），从而使基于传统COM端口的现有串行UART应用程序可以轻松迁移并支持USB。

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当招聘数字IC设计岗位时，可能会问到以下问题。以下是一些常见问题及其参考答案： 1. 请简要介绍数字IC设计的基本流程。 参考答案：数字IC设计的基本流程包括需求分析、架构设计、RTL设计、验证、综合、布局布线和后端验证。 2. 什么是时序分析？在数字IC设计中的作用是什么？ 参考答案：时序分析是评估电路在不同输入情况下的时钟周期、延迟和时序约束等方面的行为。它的作用是确保电路在正常工作范围内，满足规定的时序要求。 3. 解释时钟抖动的概念以及在设计中的影响。 参考答案：时钟抖动是指时钟信号的震荡或不稳定性，可能导致时序错误。它会对电路的稳定性和可靠性产生负面影响，可能导致设备失效或性能下降。 4. 什么是DFT可测试性设计（Design for Testability）？为什么它在数字IC设计中很重要？ 参考答案：DFT是指为了提高芯片的可测试性而进行的设计策略和技术。它包括扫描链、边界扫描、故障模拟和压缩等技术，以便在芯片制造过程中进行故障检测和测试。DFT在数字IC设计中至关重要，因为它能够提高测试效率、降低成本，并确保电路的可靠性。 在 DFT（Design for

The Design of CMOS Radio-Frequency Integrated Circuits, Second Edition