完整英文版 IEC 60749-17：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17： Neutron irradiation（半导体器件--机械和气候测试方法--第17部分：中子辐照）。执行 IEC 60749-17:2019 以确定半导体设备对非电离能量损失 (NIEL) 退化的敏感性。 此处描述的测试适用于集成电路和分立半导体器件，旨在用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1017 保持一致，包括取消文件使用限制以及限制总电离剂量的要求； - 增加了参考书目，包括与此测试方法相关的美国 MIL 和 ASTM 标准。

完整英文电子版 IEC 60749-44：2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44：Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices （半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 44 部分：半导体器件的中子束辐照单事件效应 (SEE) 测试方法）。IEC 60749-44:2016 建立了测量高密度集成电路半导体器件上的单事件效应 (SEE) 的程序，包括具有存储器的半导体器件在受到宇宙射线产生的大气中子辐射时的数据保留能力。 当设备被已知通量的中子束照射时，测量单事件效应灵敏度。 这种测试方法可以应用于任何类型的集成电路。

详细的MCNP6说明书，包含详细建模、理论等说明， 需要阅读者具有一定英语水平（MCNP® is a general-purpose, continuous-energy, generalized-geometry, time-dependent, Monte Carlo radiation-transport code designed to track many particle types over broad ranges of energies. This MCNP Version 6.2 is a follow-on to the MCNP6.1.1 beta production version and has been released in order to provide the radiation transport community with the latest feature developments and bug fixes in the code.）

包含一个主对话框和两个子对话框（在Tab控件中显示）。常用的MFC控件（包括字体、BMP控件）都可以进行缩放，子对话框的控件也可跟随主对话框大小缩放。单个对话框也适用。界面的控件ID循环查找存入数组中（这样界面可随意添删控件也不需要改变代码，注意控件ID不允许重复！）

详细讲解并给出实例，帮助大=大家解决子窗口如何调用父窗口自己写的派生类函数。希望对大家有帮助

【硕士课题】吉尔法求解点堆中子动力学方程的MATLAB程序.rar

MFC中，包含多个对话框，子对话框在Tab控件中显示，让子对话框中的控件跟随主对话框大小变化而变化，字体也能够缩放，但是不能加载图片控件，只对控件和字体缩放，单个对话框也适用，简单易懂。主要有一个CLout类，这个demo中包含三个子对话框，都能够缩放。也可以用于Tab控件的学习使用。

这应该就是窗体间调用控件的最简单最好理解的代码了。 C#不像VB.NET，控件要讲究实例化，VB.NET哪里管那么多，拿来直接就用，如果控件的modifier的属性设为Public，更简单，连控件的所属表单都不用加，直接用控件名称就可以。