此资源为MSP430单片机的ADC测试程序,对于430单片机具有通用性,具有很强的参考价值,程序经过实际开发的测试验证,保证可用
2022-05-23 03:41:56 36KB 单片机
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PCF8563时钟芯片驱动,I2C接口,PCF8563实时时钟驱动C代码
2022-05-22 21:15:25 2KB RTC PCF8563 8563 时钟
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1602的RS接P2.0,RW接P2.1,E接P2.2 7~14的8个引脚接MSP430的P1.0~P1.7,其余按照1602引脚要求连接即可。 #include #define uchar unsigned char #define uint unsigned int #define P20 0 #define P21 1 #define P22 2 #define RS_CLR P2OUT &= ~(1 << P20) //RS置低 #define RS_SET P2OUT |= (1 << P20) //RS置高 #define RW_CLR P2OUT &= ~(1 << P21) //RW置低 #define RW_SET P2OUT |= (1 << P21) //RW置高 #define EN_CLR P2OUT &= ~(1 << P22) //E置低 #define EN_SET P2OUT |= (1 << P22) //E置高 uchar num; int ADC_CHO; int c; int data; unsigned char x; unsigned char y; void delay(uint z) { uint x,y; for(x=z;x>0;x--) for(y=110;y>0;y--); } void write_com(uchar com) //输入数据 { RS_CLR; //RS置低 输入指令 P1OUT=com; delay(5); EN_SET; delay(5); EN_CLR; //E置低 1->0 执行指令 } void write_data(uchar data) //输出数据 { RS_SET; //RS置高 RS=1输出数据 P1OUT=data; delay(5); EN_SET; delay(5); EN_CLR; //E置低 1->0 执行指令 } void init() //1602初始化,请参考1602的资料 { EN_CLR; write_com(0x38); //设置16*2显示,5*7点阵,8位数据接口 write_com(0x0e); //光标不显示 write_com(0x06); //写入新数据后光标右移,显示频不移动 write_com(0x01); //0000000001 清屏 write_com(0x80); //修改指针的位置 }
2022-05-22 14:28:23 20KB MSP430G2553 ADC 测温度
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STM32F4xx ADC模数转换应用单通道采集--中断方式程序源码,有使用到STM32F4xx 系列ADC的可以参考!
2022-05-22 12:39:54 573KB stm32 adc 中断
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共有两个ADC设计,一个利用芯片实现,另一个功能较强,可以记录比较后相等点的数值。 共有两个ADC设计,一个利用芯片实现,另一个功能较强,可以记录比较后相等点的数值。
2022-05-22 11:33:39 2.28MB Multisim10 ADC_sar2
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基于STM32F030F4P6 单片机 ADC采用DMA传输,串口发送,位带操作,C和C++
2022-05-21 18:37:54 311KB STM32F030F4   ADC+DMA 串口 C、C++
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原创代码,使用keil 编译通过,样机实物测试可用
2022-05-21 18:15:14 41.62MB Lorasx1278 stm32 ADC录音 SPPEX音频压缩
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1.TM4C1294XL定时器触发ADC采样,使用DMA搬运,DMA工作在ping-pong模式下。 2.博客地址https://blog.csdn.net/weixin_43980908/article/details/123954440
2022-05-21 10:15:19 815KB 单片机
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理解ADC误差对系统性能的影响.理解ADC误差对系统性能的影响
2022-05-20 13:54:34 128KB ADC
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本文提出了两种校准方案,以校正模数转换器中的级增益误差。 两种方法针对不同的场景,或者更高的校准精度或更少的数字开销。 首先,我们在传统的基于代码统计的方法中优化了增益计算方案,从而提高了校准精度。 此外,我们引入了检测到丢失代码的校准,该校准通过对数字域中丢失代码的数量进行计数和乘以运算来代替增益系数的计算,从而大大简化了数字实现。 为了消除对输入信号的校准依赖性,我们在芯片上实现了测试信号生成的功能。 我们还将这些校准方案与输入信号的要求,校准精度以及基于行为模拟的数学模型的硬件开销进行比较。 两种概念均以11位80-MS / s的逐次逼近进行了验证。通过在65 nm CMOS中制造的桥式数模转换器对寄存器进行注册
2022-05-20 13:52:11 2.63MB 研究论文
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