完整英文电子版 JEDEC JESD237：2014 Reliability Qualification of Power Amplifier Modules （功放模块可靠性鉴定）。该标准描述了一组基线验收测试，用于将功率放大器模块作为单独的新产品、产品系列或正在更改的过程中的产品进行鉴定。 这些测试能够刺激和沉淀半导体器件、内部组件、层压板和封装故障。 目标是与使用条件相比以加速的方式促成故障。 故障率预测通常需要比鉴定测试和持续时间或应力中要求的更大的样本量，这会加剧正常磨损。 有关预测故障率的指南，请参阅 JESD85 以 FIT 为单位计算故障率的方法。 该认证标准并非针对极端使用条件，例如军事应用、汽车引擎盖下应用或不受控制的航空电子环境，也不涉及 JEP150 中提到的 2 级可靠性考虑因素。
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完整英文电子版 JEDEC JESD659C：2017 Failure-Mechanism-Driven Reliability Monitoring (故障机制驱动的可靠性监控)。该标准描述了基于限制可靠性的故障机制的测量的组件和组件可靠性监视器的基本要求。 它适用于资格后生产期。 内在（磨损和系统）和外在（基于缺陷的）故障源都得到了解决。
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