工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定 都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并 且报警。但是只能检测一代内存， 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式，他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍，因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86系列，只要BIOS认的到的容量 他都能测！！ 　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上 述选项才能通过。 　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆　可以测试SD及DDR内存。 ☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带 动它（可解决部分点不亮问题） 。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时， 上述选项才能通过。 ☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试CPU的 L2 cache。

几种常用接口定义，包括RS-232、V.35、RS-530、RS-449、X.21

C++ Builder与RS-232串行通信控制

我们使用MAX485模块在两个Arduino之间的通信中实现RS-485协议。

将 SMBV100A 矢量信号发生器通过 USB 连接到主机，它将配置、设置和传输由其 IQ 数据矢量定义的信号。 它还可用于通过以太网从 RTO2044 数字示波器接收到主机的 IQ 信号。 因为它是为西班牙大学设计的，所以帮助文档是西班牙语的。 对不起。

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基于GIS和RS的城市土地利用时空演化研究--以云南省昆明市为例，王艳平，，土地资源是人类生产和生活的最基本的资源，土地利用/土地覆盖是土地资源的重要体现。随着经济的快速发展、人地矛盾的出现同时环�

1．测试JK触发器、D触发器、T触发器的逻辑功能。 2．了解不同触发器的逻辑功能之间的相互转换。 3．了解触发器的简单应用。 4.时钟控制RS触发器、JK触发器和主从钟控RS触发器、JK触发器的比较

1．验证基本RS触发器、门控D触发器、边沿JK触发器的逻辑功能； 2．熟悉常用触发器的使用方法；

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