在线烧录程序时出现“The firmware of the connected J-Link[SN:20090928] does not support the following memory access:Read&@0x02000004 Flags:via AHB-AP”错误提示

在C:\Program Files (x86)\Common Files\Adobe\OOBE\PDApp目录下创建P7目录拷贝IMSLib.dll到目录下即可

在 Delphi 开发环境中，创建和管理 MDI（多文档界面）应用程序时，经常需要处理 DLL 动态链接库的问题。本文将详细探讨如何在 MDI 窗体中调用一个作为 DLL 的子窗体。 MDI（Multiple Document Interface）是一种用户界面设计模式，它允许在一个主窗口内打开多个子窗口，每个子窗口可以显示不同的数据或执行不同的功能。在 Delphi 中，MDI 应用程序通常由一个 fsMDIForm 类型的主窗体和多个 fsMDIChild 类型的子窗体组成。 在标题所描述的问题中，开发者试图在主窗体（fsMDIForm）中通过 DLL 调用一个子窗体（fsMDIChild）。具体步骤如下： 1. **加载 DLL**： 在 `Button1Click` 方法中，使用 `LoadLibrary` 函数加载名为 "MdiChild.dll" 的 DLL 文件。`GetProcAddress` 函数用于获取 DLL 中名为 `_ShowTestMng` 的函数指针。 2. **调用 DLL 函数**： 如果成功获取了函数指针，就调用 `_ShowTestMng` 函数，并传递主窗体实例（`TMainform`）作为参数。 3. **DLL 中的函数实现**： 在 DLL 的 `_ShowTestMng` 函数中，首先设置 `Application.Handle` 为从主窗体传递过来的句柄（`MyHandle`），这样可以确保 DLL 中的子窗体与正确的 MDI 主窗口关联。然后，使用 `Application.CreateForm` 创建 `TFrmChild` 类型的子窗体，并调用 `FrmChild.Show` 显示它。 然而，问题出现在 `Application.CreateForm` 这一步骤，错误提示是：“Cannot create form. No MDI Forms are currently active.” 这意味着在尝试创建 MDI 子窗体时，系统找不到活动的 MDI 主窗体。 解决这个问题的关键在于理解 MDI 窗体的生命周期和 DLL 中的上下文。在 Delphi 中，MDI 子窗体必须在 MDI 主窗体的上下文中创建。当在 DLL 中创建 MDI 子窗体时，由于 DLL 和主程序运行在不同的上下文中，因此需要正确地传递和使用 MDI 主窗体的信息。 一种可能的解决方案是： 1. **传递 MDI 主窗体引用**： 在主窗体中，除了传递 `MyHandle` 外，还可以考虑传递一个对 `TMainform` 类的引用，而不是简单的窗口句柄。这样在 DLL 中可以直接访问到主窗体对象，而不必依赖 `Application.Handle`。 2. **在 DLL 中正确使用主窗体引用**： 在 DLL 的 `_ShowTestMng` 函数中，使用主窗体对象来创建 MDI 子窗体，而不是直接调用 `Application.CreateForm`。例如，可以添加一个方法到 `TMainform` 类，让 DLL 调用这个方法来创建子窗体。 ```delphi // 在 TMainform 类中添加方法 procedure TMainform.CreateMDIChild; begin Application.CreateForm(TFrmChild, FrmChild); FrmChild.MDIParent := Self; // 设置 MDI 子窗体的父窗体 FrmChild.Show; end; // 在 DLL 中调用主窗体的方法 procedure _ShowTestMng(var adm: TMainform); begin result := true; adm.CreateMDIChild; end; ``` 通过这种方式，DLL 可以利用主窗体对象来创建和管理 MDI 子窗体，确保子窗体与正确的 MDI 主窗口关联，从而避免上述错误。 处理 MDI 窗体和 DLL 之间的交互时，需要注意正确的上下文传递和使用，以及 MDI 窗体生命周期的管理。正确地处理这些细节将确保 MDI 应用程序的正常运行。

修复mapbox-unity-sdk_v2.1.1z在高版本中导入异常的问题。

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微电网是一种分布式能源系统，它能够在与主电网连接或处于孤岛模式下独立运行。在孤岛模式下，微电网的调度优化问题变得尤为重要，因为需要确保系统的稳定性和经济性。本资料主要探讨了如何利用遗传算法来解决孤岛型微电网的成本最低调度优化问题，并提供了MATLAB代码作为辅助理解。 遗传算法是一种模拟自然选择和遗传机制的全局优化方法，它通过模拟生物进化过程中的“适者生存”原则，逐步改进解空间中的个体，从而逼近问题的最优解。在微电网调度优化中，遗传算法可以用于寻找电力系统中各个能源设备的最佳运行策略，包括发电机、储能装置和负荷的调度，以达到最小化运营成本的目标。 在微电网中，多种能源如太阳能、风能、柴油发电机等并存，它们的出力特性各异，调度时需要考虑其不确定性、波动性和非线性。遗传算法可以有效地处理这些复杂因素，通过编码、初始化、交叉、变异和选择等步骤来搜索最优解决方案。编码通常将微电网中的设备状态和调度决策转化为适合遗传操作的数字串；初始化阶段生成初始种群；交叉和变异操作则保证了种群的多样性，避免过早收敛；选择过程则是根据适应度函数（在此案例中可能是总成本）淘汰劣质个体，保留优良基因。 资料中的MATLAB代码实现了上述遗传算法的全过程，并且针对孤岛型微电网进行了定制化设计。代码可能包含了以下部分：数据输入模块，用于定义微电网的设备参数和运行约束；目标函数定义，计算运行成本；遗传算法的核心实现，包括种群生成、适应度评估、选择、交叉、变异等操作；以及结果分析和可视化。 此外，描述中提到的其他领域如智能优化算法、神经网络预测、信号处理、元胞自动机、图像处理、路径规划和无人机，都是MATLAB在工程和科研中广泛应用的领域。这些技术虽然没有直接关联于微电网优化，但都体现了MATLAB作为一种强大的多学科工具箱，可以支持各种复杂的建模和仿真任务。 这个压缩包提供了一个使用遗传算法解决孤岛型微电网调度优化问题的实例，对于学习微电网优化和遗传算法的实践者来说是宝贵的资源。通过阅读和运行代码，可以深入理解这两种技术的结合及其在实际问题中的应用。同时，这也提醒我们，MATLAB作为一款强大的工具，可以跨越多个工程和科学领域，实现多元化的问题解决。

在IT领域，算法设计与分析是核心组成部分，它关乎到软件和系统的效率、性能以及解决问题的能力。本主题聚焦于三个具体的问题：选课方案设计问题、Rectangle问题和圆排列问题，这些都是算法应用的经典实例。 选课方案设计问题通常涉及到组合优化。在大学教育系统中，学生需要在有限的课程资源下选择最佳的课程组合，满足学分要求、时间冲突限制和个人兴趣。这类问题可以使用贪心算法或回溯法来解决。贪心算法每次做出局部最优选择，期望整体结果也是最优；而回溯法则是在搜索空间中逐步构建解，遇到不满足条件的情况时回溯，寻找其他可能的路径。理解这些算法的适用场景和局限性是解决此类问题的关键。 Rectangle问题，也称为矩形覆盖问题，常见于计算机图形学和地理信息系统中。问题的核心是找出最小数量的非重叠矩形来覆盖给定的一组矩形区域。这可以关联到几何算法和数据结构，如最小生成树、线段树或者并查集。通过这些工具，我们可以高效地处理碰撞检测和空间划分，实现有效的矩形合并策略。 圆排列问题属于图论中的一个子领域，研究如何在平面中安排不相交的圆，使得它们的中心构成一个有向图，每对圆之间存在一条边，指向更小的圆。这个问题可以与欧拉回路、哈密顿回路等经典问题联系起来，也可以应用到网络设计、物流规划等领域。解决圆排列问题通常需要用到图的遍历算法，如深度优先搜索（DFS）或广度优先搜索（BFS），以及动态规划等高级策略。 这三个问题展示了算法设计与分析在实际问题解决中的广泛性和多样性。从选课方案的优化到二维空间的几何覆盖，再到图论中的排列问题，都要求我们具备扎实的算法基础和创新能力。掌握这些算法和方法不仅有助于解决当前的问题，也能为未来遇到的新挑战提供有力的工具。通过实践和深入学习，我们可以不断提升在算法设计与分析方面的专业素养。

本篇文章全面介绍了电子负载的原理，尤其对电子负载在LED测量过程中存在的误区进行重点介绍。不仅如此，在本文当中还提出了一些可行的解决方法，以便得到较为稳定的电流数据。希望大家在阅读过本篇文章之后能够有所收获。 在LED电源测试中，电子负载扮演着至关重要的角色。然而，使用电子负载的过程中存在一些常见的误区，这可能导致测试结果的不准确，甚至影响LED电源产品的质量和安全性。本文旨在深入解析这些误区并提供解决方案。 电子负载的CV（Constant Voltage，恒定电压）模式是LED电源测试的基础。在CV模式下，电子负载通过电压负反馈电路来维持LED电源输出电流的稳定，以保持电容上的电荷平衡，从而达到恒定电压。决定CV精度的关键因素有两个：负载的带宽和LED电源输出电容的大小。如果负载带宽不足以跟踪电流变化，可能会导致输出电压震荡，增加电流纹波，影响测试结果的准确性。 负载带宽不足时，LED电源输出电流纹波高的问题尤为突出。此时，负载输入电压的剧烈变化会使LED输出电容进行大电流充放电，增大电流纹波。因此，选择具有足够带宽的电子负载至关重要。满量程电流上升时间是衡量负载带宽的一个间接指标，数值越小，表示负载响应速度越快，带宽越高。 此外，一些用户错误地认为数据跳动小的负载更适合LED测试。实际上，数据稳定性可以通过增加数据滤波时间来实现，但这可能导致低采样率下的测量结果失去准确性。为了确保测量的精确性，提高数据采样率才是关键。 在LED电源测试中，还需要关注以下几个要点： 1. 满量程电流上升时间：这是保证准确带载的基础，应尽可能选择数值较小的负载。 2. 数据采样率：高采样率能提供更准确的测量结果，应优先考虑。 3. Vpp（电压峰峰值）实时显示：Vpp的变化可以帮助判断测量数据的可信度。 4. 滤波速度调节功能：虽然可以改善数据稳定性，但不应过度依赖，因为过度滤波可能导致数据失真。 市场上有些号称专门用于LED电源测试的电子负载，可能实际上是通用电子负载改造而来，其带宽和采样率可能并不符合要求。这些负载可能会通过增加滤波强度、调整电压反馈环或内部加装电容来改善电流稳定性，但这可能导致测量结果的不可靠。 正确理解和使用电子负载对于LED电源的测试至关重要。在选择和操作电子负载时，应充分考虑带宽、采样率、Vpp监测和滤波等因素，以确保测试的准确性和有效性。同时，避免被市场上不合规的“专用”电子负载误导，确保选用具备高性能指标的设备，才能有效地评估和优化LED电源的性能。

我们研究自发CP违规，以解决左右对称理论中的强CP问题。 离散的CP对称性由右手希格斯双峰的复数真空期望值破坏。 类似矢量的沉重夸克夸克与标准模型夸克混合，引入了已知的CP违规，从而实现了Nelson-Barr机制的一种变体。 QCD真空角在回路水平上消失。 讨论了紫外完全理论中小规模三阶化的实现。 我们进一步评论该模型的现象学和未来可测试性。

我们提出了一个完整的理论中依赖于水平规对称性和CP不变性的强CP问题的解决方案。 与其他Nelson-Barr型解决方案相似，标准模型（SM）的强和弱扇区中的CP违规都归因于模型中复杂标量Φ的凝聚。 该模型与其他模型的不同之处在于，它基于水平SU（3）f规范对称性的一系列连续破坏，解释了SM中夸克-希格斯Yukawa耦合中的层次。 实验约束θ≲10-10需要requiresΦ1013-1014GeV（复标量的真空期望值）和λ≲10-6（标量四次耦合）。 我们证明，从霍夫特的自然性来看，这种小的耦合是自然的。 与具有CP破坏标度≲CP≲108GeV的其他Nelson-Barr型模型相比，我们的模型在与热瘦素形成的一致性方面更具优势。