ise开发套件 ，版本ise10.1 下载速度很快，

子串逆置 【问题描述】 输入两行字符串s和t（s和t可以含空格，length(t)≤length(s)≤50），将s串中首次与t匹配的子串逆置，并将处理后的s串输出。 【输入形式】 输入文件为当前目录下的invertsub.in。 文件中有两行字符串s和t，分别以换行符作为结束符，其中换行符可能是Linux下的换行符，也可能是Windows下的换行符。 【输出形式】 输出文件为当前目录下的invertsub.out。 输出文件只有一行，包含一个串，为要求的输出结果。行末要输出一个回车符。 【输入样例】 helloworld llowor 【输出样例】 herowollld 【时间限制】 1s 【空间限制】 65536KB

NeuDATool：支持GPU硬件加速和计算机集群跨节点并行的开源中子散射数据分析软件.pdf

Matlab_代码 在Matlab中实现中子输运理论中数值方法的实现 关于 离散坐标SN近似中的中子输运方程解在核科学与工程领域具有重大的实践意义。 为了解决固定源和特征值问题的SN方程，一些研究人员将注意力集中在创建简单而准确的数值方法上。 该项目的目标是实施正在使用的不同方法并开发一些相关的新功能。 使用Matlab实现了不同的数值方案，用户可以下载并直接使用每种数值方法。 作者 伊拉姆·里瓦斯·奥尔蒂斯（Iram B.Rivas Ortiz）

MFC中子控件响应键盘消息 结合教程http://blog.csdn.net/lsldd/article/details/51517470

软件介绍: 硼中子测井解释软件应用于油气井单井测井解释，安装后即可使用，且操作比较简单，可以用于数据加载，单井成果解释等。硼中子测井解释软件一. 硬件环境:①主机 586以上档次微机,64M以上内存②打印机 支持各种打印机③绘图仪 支持各种绘图仪，包括V80静电绘图仪二. 操作系统Windows 2000、XP

半导体夹心谱仪测量裂变中子能谱的不确定度.pdf

业分类-物理装置-一种强关联材料的非弹性中子散射数据解析方法.zip

完整英文版 IEC 60749-17：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17： Neutron irradiation（半导体器件--机械和气候测试方法--第17部分：中子辐照）。执行 IEC 60749-17:2019 以确定半导体设备对非电离能量损失 (NIEL) 退化的敏感性。 此处描述的测试适用于集成电路和分立半导体器件，旨在用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1017 保持一致，包括取消文件使用限制以及限制总电离剂量的要求； - 增加了参考书目，包括与此测试方法相关的美国 MIL 和 ASTM 标准。

完整英文电子版 IEC 60749-44：2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44：Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices （半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 44 部分：半导体器件的中子束辐照单事件效应 (SEE) 测试方法）。IEC 60749-44:2016 建立了测量高密度集成电路半导体器件上的单事件效应 (SEE) 的程序，包括具有存储器的半导体器件在受到宇宙射线产生的大气中子辐射时的数据保留能力。 当设备被已知通量的中子束照射时，测量单事件效应灵敏度。 这种测试方法可以应用于任何类型的集成电路。