三、SVM的C语言编程介绍 1.求解SVM的两个开源开发包： Libsvm: http://www.csie.ntu.edu.tw/~cjlin SVM-light：http://ais.gmd.de/~thorsten/svm_light : : ... 2. 利用SVM的C语言程序直接进行分类器的训练和测试： 例： 1 1:67 2:66 3:72 4:72 5:59 6:71 7:54 8:67 9:79 -1 1:101 2:108 3:100 4:99 5:102 6:95 7:93 8:96 9:89

支持向量机使用不同基函数对分类结果的影响； 附带高质量数据集，可以重复使用，修改测试代码； 加深对于支持向量机的理解和应用； 适合机器学习初学者，巩固基础知识，强化基础理论的学习和应用。

集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 　　1 IC 测试 　　1.1 IC测试原理 　　IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。 　　根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试

函数 [stlmat,index] = 茎叶（数组，x） 使用 x 定义的 bin 边缘创建数组的茎叶图并返回稀疏矩阵： stlmat 和 index 包含数组中的值及其索引（分别） stlmat 以列格式包含数组中的完整值，允许使用数据上的其他函数，例如 SUM 或 LENGTH。 % ％ 例子： % % t = rand(10,1) % bins = [-1 0 0.1 0.3 0.8 1.1 1.3]' % [ab] = 茎叶 (t,bins); % 满 (a) % ％ 将返回t = 0.0185 0.2311 0.4447 0.4565 0.4860 0.6068 0.7621 0.8214 0.8913 0.9501 垃圾箱 = -1.0000 0 0.5000 1.1000 1.3000 % 命令 FULL(a) 然后给出： >> 全(一) 答案 = 0 0.018

遗传算法优化SVM分类 程序完整 亲测可用！

006_基于支持向量机(SVM)的时间序列预测 Matlab代码实现过程，调用了libsvm工具箱实现

基于支持向量机的数据分类预测，代码全部封装好了，注释也写得非常详细，跑数据的过程中有任何问题可以私信博主

此函数提供多元正态分布条件期望和协方差矩阵的矢量化估计。 均值是一个矩阵，其中行表示期望向量。 Sigma 是协方差矩阵。 Ind 是第一个无条件参数的索引。 值是条件值的矩阵，其中的行对应于平均行。

文本特征向量化

关于四元数和三维旋转的数学知识详解，包括复数基础，向量基础计算，向量分解旋转计算，四元数字的构成，四元数插值slerp等内容，另外简要介绍了样条插值等内容