最新的的MTK/Ralink系列WIFI芯片无线路由设备开发指南

此篇文档主要解说MTK_SDK_ATE命令在LitePoint IQ-View仪器上进行测试配置说明，仅供参考！

半导体测试贯穿设计、生产过程的核心环节。半导体测试就是通过测量半导体的输 出响应和预期输出并进行比较以确定或评估集成电路功能和性能的过程，其测试内 容主要为电学参数测试。一般来说，每个芯片都要经过两类测试： （1）参数测试。参数测试是确定芯片管脚是否符合各种上升和下降时间、建立和保 持时间、高低电压阈值和高低电流规范，包括DC（Direct Current）参数测试与AC （Alternating Current）参数测试。DC参数测试包括短路测试、开路测试、最大电 流测试等。AC参数测试包括传输延迟测试、建立和保持时间测试、功能速度测试等。 这些测试通常都是与工艺相关的。CMOS输出电压测量

V93000_SOC_Basic_User_Training_Lecture_Manual_7.2.2_Rev.1.0.7z

CVI控制GPIB卡之间通信的DEMON 可以帮助熟悉GPIB通信，从而自动控制仪器

亲测是适用于mt7603e和mt7612e 在wifi芯片产测校准中用到 即wlan facility做产测中会先使用iwpriv去配置wifi驱动进入到ate模式然后打流进行测试 这个手册里面就有相关的iwpriv命令

介绍 stdf2map是一个基于python的轻量级命令行应用程序，用于从半导体行业中使用的自动测试设备（ATE）创建的行业标准STDF数据文件中生成外观合理的Bin晶圆图。 特征 支持STDF文件中的多个晶片 处理同一晶圆上的芯片的多次测试（重新测试） 支持映射软件或硬件BIN（ sbin或hbin ） 进行多重测试时未导致相同仓号的管芯标记 仓位可分配符号改善了关键仓位的视觉反馈。 基于零件的配置文件允许按部分分配料箱标签，颜色，选项等 高度可配置，几乎每个方面都可以通过配置文件进行更改 创建可以制作成海报的小缩略图或大图像 自动调整大小功能使具有数千个晶片的晶圆具有自动创建的清晰图。 基于命令行，应该易于集成到用户编写的脚本中，以自动/批量创建晶圆图。 支持文件通配，只需一个命令即可创建地图的整个目录。 演示模式可创建逼真的晶圆图，并提供测试可能超出可用STDF文件范围的

IC测试行业标准文件格式stdf文件规范4.0

MTK最新的ATE工具10.0版MTK_MultiATE_Tool_exe_v10.2020.0.3，带中文说明MTK Multi ATE Tool User Manual Chinese VesionV2.0。▪ 5.Multi ATE Tool系统设置System Setup ▪ 6.Multi ATE Tool加载文件设置Files Setup说明 ▪ 7.Multi ATE Tool校准&综测设置Cal&NSFT Setup ▪ 8.Multi ATE Tool CFG新增内容 ▪ 9.Multi ATE Tool Cal&NSFT测试实例流程 ▪ 10. Multi ATE Tool

本文在Modelsim环境下，通过Verilog HDL语言建立一个器件模型，搭建一个验证仿真平台，对164245进行了仿真，验证了164245的功能，同时得到了ATE所需的图形文件，实现了预期所要完成的任务。