完整英文电子版 AEC - Q100 Rev H CDC Template Certificate of Design, Construction and Qualification （CDC设计、实施和资质证书模板）
2021-07-14 18:02:27
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完整英文电子版 AEC - Q100 Rev H QTP Template Qualification Test Plan（QTP模板 资格测试计划）。
2021-07-14 18:02:14
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本测试方法的目的是定义获得集成电路电气参数的表征、电气分布和参数偏移数据的方法。 该方法的目的是评估部件在正常工艺变化、时间和/或预期应用环境（例如，工作温度范围、电压等）内在规范参数内运行的能力。
2021-07-14 14:02:20
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本测试方法适用于除 Flip Chip 之外的所有焊球表面贴装封装（例如 PBGA、Chip Scale、Micro Lead Frame）。该测试方法的目的是定义测量屏障之间界面剪切强度的程序 金属和焊球。 该方法还确定了该界面的最小剪切强度要求。
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完整英文电子版 AEC-Q100-011D：2019 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test （带电设备模型（CDM） 静电放电测试 ）。本规范的目的是建立一个可靠且可重复的程序，以确定集成电路器件的 CDM ESD 灵敏度。
2021-07-14 14:01:58
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完整英文电子版 AEC-Q100-012：2006 Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems（12V 系统智能功率器件的短路可靠性表征）。本规范的目的是确定“受保护”驱动器在连续短路条件下运行时的可靠性。 本文档无意解决白炽灯应用（例如外部照明）中出现的软短路故障。 这些申请将在单独的文件中考虑。 目前不在本文档范围内的其他保护策略和工作电压也正在为未来的文档进行评估。
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包含的13份最新英文电子版标准文件是：
1， AEC-Q100H：2014 基于失效机制的集成电路应力测试资格认证（基础文件）- 完整英文电子版（48页）
2， AEC-Q100-001C：1998 Wire Bond Shear Test（线材剪切试验）- 完整英文电子版（14页）
3， AEC-Q100-002E：2013 人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试 - 完整英文电子版（7页）
4， AEC-Q100-003E：2003 机器型号 (MM) 静电放电测试 - 完整英文电子版（14页）
5， AEC-Q100-004D：2012 IC Latch-Up Test（IC锁存测试）- 完整英文电子版（11页）
6， AEC-Q100-005D1：2012 非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 - 完整英文电子版（14页）
7， AEC-Q100-006D：2003 电热诱导的寄生门漏电测试（GL - 完整英文电子版（15页）
8， AEC-Q100-007B：2007 Fault Simulation and Test Grading（故障模拟和测试分级）- 完整英文电子版（25页）
9， AEC-Q100-008A：2003 Early Life Failure Rate (早期寿命衰竭率）- 完整英文电子版（6页）
10， AEC-Q100-009B：2007 Electrical Distribution Assessment（配电评估）- 完整英文电子版（10页）
11，AEC-Q100-010A：2003 Solder Ball Shear Test（焊锡球的剪切试验）- 完整英文电子版（7页）
12，AEC-Q100-011D：2019 带电设备模型（CDM） 静电放电测试 - 完整英文电子版（12页）
13， AEC-Q100-012：2006 12V 系统智能功率器件的短路可靠性表征 - 完整英文电子版（14页）
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