对基于点特征的单目视觉定位算法进行研究， 提出了一种基于 5 点透视投影数学模型的单目视觉位姿测量 算法， 该算法使用不共面定位特征点， 根据 5 个特征点在摄像机坐标系与世界坐标系下相对位置关系相同来计算 5 个 特征点在摄像机坐标系下的坐标， 进而求出物体的转动角度． 同时还构建了一套基于 OpenGL 图形引擎的数字仿真系 统， 完成了物体位姿的仿真计算， 实现对算法定位精度的评价， 仿真实验结果表明， 在理想状况下， 该算法的定位精度达 到了±0.01° ， 为单目视觉物体位姿测量提供了一种具有较高精度的方法

完整英文版 IEC 62595-2-1：2016 Display lighting unit - Part 2-1：Electro-optical measuring methods of LED backlight unit（显示照明单元-第2-1部分：LED背光单元的光电测量方法）。IEC 62595-2-1:2016(E)规定了确定液晶显示器用LED背光单元的电学和光学参数的标准测量条件和测量方法。 本第一版取消并替代了 2012 年出版的 IEC 62595-2 第一版。该版本构成技术修订。

完整英文版 IEC 62595-2-2：2018 Display lighting unit - Part 2-2：Measuring methods of LED light bars used in LCD BLUs（显示照明单元 - 第 2-2 部分：LCD BLU 中使用的 LED 灯条的测量方法）。IEC 62595-2-2:2018(E) 规定了用于确定 LCD 背光单元中使用的带有白光 LED 的 LED 灯条的电气和光学性能的标准测量条件和测量方法。

完整英文版 IEC 62595-2-3：2018 Display lighting unit - Part 2-3：Electro-optical measuring methods for LED frontlight unit （ 显示屏照明单元 - 第2-3部分：LED前灯单元的光电测量方法）。IEC 62595-2-3:2018(E)规定了确定反射式显示器的LED前灯单元(FLU)的电气、光学和电光特性的标准测量条件和测量方法。

完整英文版 IEC 62595-2-5：2021 Display lighting unit- Part 2-5：Measurement method for optical quantities of non-planar light sources（显示照明单元 - 第 2-5 部分：非平面光源光量的测量方法）。IEC 62595-2-5:2021 规定了测量凸面和凹面柱面光源光学特性的测量方法。 这些非平面光源 (NPLS) 可以具有连续的、独特的、分段的或块状的光辐射表面，例如 OLED 面板、集成 LED、集成微型 LED、微型 LED、激光二极管，每个都是单色的 或多色。

完整英文版 IEC 62595-2-4：2020 Display lighting unit - Part 2-4：Electro-optical measuring methods of laser module（显示照明单元 - 第2-4部分：激光模块的光电测量方法）。IEC 62595-2-4:2020(E) 规定了具有多个激光设备和光输出的激光模块的电光测量方法，适用于需要光度和色度测量的各种显示器和显示照明应用，涵盖 380 nm 波长范围 到 780 纳米。 该模块具有多个激光器件，例如边发射激光二极管 (LD)、垂直腔面发射激光二极管 (VCSEL) 或包括二次谐波产生 (SHG) 的光子上转换激光器件。 该模块具有光输出，例如光纤、波导、光导、透镜单元或其他光学器件，发射组合多个激光设备的输出的激光束。

完整英文版 IEC 62595-2-5：2021 Display lighting unit-Part 2-5：Measurement method for optical quantities of non-planar light sources（显示照明装置-第2-5部分：非平面光源的光学量测量方法）。IEC 62595-2-5:2021规定了测量凸面和凹面圆柱形光源的光学特性的测量方法。这些非平面光源（NPLS）可以有连续的、不同的、分段的或块状的光辐射表面，例如OLED面板、集成LED、集成微型LED、微型LED、激光二极管，每个都是单色的或多色的。

基于MatLab图像处理技术的线圈长度测量方法.pdf

提出了一种测量三维面形的新方法.将随机数字散斑投影到参考平面上,深度方向等间距平移参考平面,用CCD摄取时间序列散斑参考集R(t).然后用被测物体取代参考平面,获取物体调制散斑图像O.O中的任意子图像O(x,y)与参考平面簇中对应位置的时间序列子图像R(x,y;t)之间的交叉相关值曲线呈高斯分布,其峰值位置就是被测物点的高度.该方法摆脱了以前数字散斑测量法水平相关思路,是真正的时间序列相关方法;且原理简单,测量精度高,不需要复杂的相位展开和校准过程,特别适用于测量突变面形和空间离散面形.根据测量结果的误差特征,提出了相关值加权邻域平均插值算法,能得到比邻域平均算法更好的测量结果.

IEC61000-4-30-2008电磁兼容(EMC)试验和测量技术电能质量测量方法.pdf