BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用,介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MereBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。
2022-07-25 14:52:57
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SOC L_v2.7.2 (armeabi-v7a) (Android 5.0+) XAPK
2022年05月16日 armeabi-v7a Android 5.0+ 160-640dpi
2022-07-20 11:04:02
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SOC L_v2.7.2 (armeabi-v7a)(2)(Android 5.0+) XAPK
2022年05月16日 armeabi-v7a Android 5.0+ 160-640dpi
2022-07-20 11:04:01
6.84MB
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SOC L_v2.7.2 (arm64-v8a) (Android 5.0+) XAPK
2022年05月16日 arm64-v8a Android 5.0+ 160-640dpi
2022-07-20 09:05:15
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SoC-L_2.7.1 for android 截至2022-7-18日 数据库可以正常更新
2022-07-19 09:05:38
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1，Zynq-7000白皮书，
2，ZedBoard板载资料
3，MicroZed板载资料
4，Zynq SoC ZC702 评估套件资料
5，Zynq SoC ZC706 评估套件资料
6，设计实例
7，学习笔记
8，X-fest 最新资料包
9，Xilinx AXI4总线资料
10，Xilinx官网上的关于Zynq平台的软件开发和相关工具使用手册
2022-07-18 20:09:37
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Gid1319Pdf_Hi3559_V100_2K4K_MobileCamera_SoC_Brief_Data_Sheet
hi3559v100 芯片手册
2022-07-18 14:07:51
213KB
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完整的电池均衡系统，详细阐述了以磷酸铁锂电池为例的soc估算方法，直接可以运行程序得仿真图
2022-07-18 14:01:02
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