为了提高低密度校验(low density parity check,LDPC)码的打孔性能,提出一种基于校验矩阵优化扩展的码率兼容LDPC码设计方法。从码率兼容码的度分布约束关系出发,提出母码的度分布优化算法。在此基础上,结合打孔变量点的译码恢复规则,构造适合打孔的LDPC码校验矩阵。采用贪婪搜索算法逐级最大化不同类型的打孔变量点数目,提高码率兼容系列子码的误码性能。仿真结果表明,与编码高效的码率兼容LDPC码相比,所提方法生成的码率兼容子码误码性能有较大改善,特别是当码率大于0.8时,编码增益提高约0.7~0.8dB。

校验码生成工具软件包

delphi unigui如何实现图库式登录校验码

实现CRC16校验码的生成。使用计算法和查表法。 运行环境是VS2008，双击文件夹CRC_table中的CRC_table.sln打开项目。直接运行即可。 具体情况请参见Readme.txt

用于汽车等机械第九位校验码的生成，只需要输入前8位和后8位即可。第九位可以自动生成，用于汽车等机械第九位校验码的生成，只需要输入前8位和后8位即可。第九位可以自动生成，

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描述了LDPC的校验矩阵的产生 编码和解码 同时包含BPSK调制解调 不同码长比可用

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Matlab仿真程序实现LDPC低密度奇偶校验码

CRC即循环冗余校验码（Cyclic Redundancy Check）：是数据通信领域中最常用的一种差错校验码，其特征是信息字段和校验字段的长度可以任意选定。循环冗余检查（CRC）是一种数据传输检错功能，对数据进行多项式计算，并将得到的结果附在帧的后面，接收设备也执行类似的算法，以保证数据传输的正确性和完整性。