PCIE 4.0 connector high speed electrical test procedure

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本标准涵盖了有助于组织和进行电气检查的最低标准，包括对新电气设备以及符合AHJ要求的现有电气设备进行改造的管理，计划审查和现场检查。

最新完整英文版NFPA 70：2020 National Electrical Code (NEC)-美国国家电气规范(NEC) ， 2020版本， 有大量的更新及新加的规范要求， 是电子电气产品安装使用的基础及参考。

逐步使用本培训手册，您将获得 SEE Electrical 的经验。 　 如果您已经开始使用SEE Electrical，则可按照示例逐步进行操作。您将了解SEE Electrical 的 基本功能。

USB4.0的测试方案

英文原版教科书，数字控制，有兴趣的小伙伴可以看看 Digital Control of Electrical Drives

官方原版EMBEDDED MULTI-MEDIA CARD (e•MMC), ELECTRICAL STANDARD (5.1) 方便查询和应用

完整英文版 UL 310：2019 Standard for Electrical Quick-Connect Terminals（ 电气快速连接端子标准）。 本标准适用于标称宽度为2.8、3.2、4.8、5.2和6.3毫米（0.110、0.125、0.187、0.205和0.250英寸）的快速连接端子，包括连接器和插片。 本标准适用于打算与一根或两根26-10 AWG（0.13-5.3 mm2）铜导体一起使用的快速连接端子。

电子断层扫描（ET）成像技术于1980年代开发，由于其成本低，响应速度快，缺乏放射线照射以及与其他断层扫描方式相比无干扰性，因而引起了工业界和研究界的广泛关注。 然而，由于其低成像分辨率，迄今为止其应用受到限制。 现有的ET成像重建方法中空间分辨率的问题在于，它们采用了基于病态方程且解不一致的数学方法。 在本文中，我们提出了一种基于数据驱动方法的新型ET成像方法。 通过恢复隐藏在ET成像过程中的簇结构，然后应用模糊聚类算法来识别簇结构，无需研究不适定的数学公式。 所提出的方法已经通过三个实验进行了测试，包括对人肺图像和塑性杆形状的图像重建，以及在Comsol平台上执行的两个模拟。 结果表明，与现有算法相比，所提方法可以更快地重建具有更高空间分辨率的ET图像。