基于51单片机的DHT11串口显示程序，同时带有时间显示功能，方便记载数据采集的时间，形成数据库，本程序使用c语言编程，程序中都附有详细的注释，且已通过测试，请大家放心下载。

DHT11数字温湿度传感器.pdf

本文设计资料包含：参考l文献，原理图，源程序，手机APP源程序等。

最新成果，基于51单片机的温湿度仿真 程序加proteus 8.0的版本 1602液晶屏显示。 DHT11是一款有已校准数字信号输出的温湿度传感器。其精度湿度+-5%RH， 温度+-2℃，量程湿度20-90%RH， 温度0~50℃。它应用专用的数字模块采集技术和温湿度传感技术，确保产品具有极高的可靠性和卓越的长期稳定性。传感器包括一个电阻式感湿元件和一个NTC测温元件，并与一个高性能8位单片机相连接。因此该产品具有品质卓越、超快响应、抗干扰能力强、性价比极高等优点。每个DHT11传感器都在极为精确的湿度校验室中进行校准。校准系数以程序的形式存在OTP内存中，传感器内部在检测信号的处理过程中要调用这些校准系数。单线制串行接口，使系统集成变得简易快捷。超小的体积、极低的功耗，使其成为该类应用中，在苛刻应用场合的最佳选择。产品为4针单排引脚封装，连接方便。 dht11温湿度系统仿真原理图如下: proteus仿真工程文件分享在附件里，点击免费下载可下载！

完整英文电子版JEDEC JESD22-A100E：2020 Cycled Temperature-Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test （循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试 ）。进行温度-湿度循环寿命测试是为了评估潮湿环境中可能发生表面凝结的非密封，固态包装的固态设备的可靠性。 它采用偏压，温度循环和高湿度条件，这些条件会导致设备表面凝结。 确定器件表面对腐蚀和/或树枝状生长的敏感性是有用的。

完整英文电子版JEDEC JESD22-A101D.01：2021 Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test（稳态温度-湿度偏差寿命测试）。进行了稳态温度-湿度偏置寿命测试，以评估非密封封装IC器件在潮湿环境中的可靠性。 施加温度，湿度和偏压条件以加速水分穿过外部保护材料（密封剂或密封剂）或沿着外部保护材料与通过该保护层的金属导体之间的界面渗透。

基于STC15F2K60S2单片机的DHT11+CO2测量系统，在LCD1602上显示。由于是基于库函数的，所以方便用户修改代码，达到自己想要的功能。STC15F2K60S2单片机也是51内核的，但是功能更加强大。

完整英文电子版JEDEC JESD22-A110E：2015 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) - 高加速温度和湿度应力测试（HAST) 。进行高速加速的温度和湿度应力测试是为了评估潮湿环境中非气密封装的固态器件的可靠性。 它采用严格的温度，湿度和偏压条件，这些条件会加速水分通过外部保护材料（密封剂或密封剂）或沿着外部保护材料与通过该保护层的金属导体之间的界面渗透。 应力通常会激活与“ 85/85”稳态湿度寿命测试（JEDEC标准编号22-A101）相同的失效机制。

基于STM32的（NB-IOT(BC26)）温湿度监测系统.rar

在12864上显示温湿度(DHT11传感器)